電子顕微鏡を用いた半導体分析研究・技術開発職
東レ株式会社
- 電子状態解析
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- TEM技術
- STEM-EELS
- STEM-CL
- SEM-SXES
- 結晶構造
STEM-EELS、STEM-CL、SEM-SXESなど各種分光法による先端半導体、ディスプレイデバイスの電子顕微鏡用試料作製、観察、結晶構造・組成・電子状態解析を行うための新規評価・解析技術の探索・開発に携わります。SEMなど電子顕微鏡に関する経験がある方が望ましいです。
- 10,000名以上
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