電子顕微鏡を用いた半導体分析研究・技術開発職
東レ株式会社
- 電子顕微鏡
- 組成
- TEM技術
- 半導体分析
- STEM-EELS
- STEM-CL
- SEM-SXES
- 結晶構造
- 電子状態解析
-
10,000名以上
-
企業ページ
■会社情報
■仕事内容
STEM-EELS、STEM-CL、SEM-SXESなど各種分光法による先端半導体、ディスプレイデバイスの電子顕微鏡用試料作製、観察、結晶構造・組成・電子状態解析を行うための新規評価・解析技術の探索・開発に携わります。SEMなど電子顕微鏡に関する経験がある方が望ましいです。■募集概要
電子顕微鏡を用いた半導体分析業務では、STEM-EELS、STEM-CL、SEM-SXESなど各種分光法による先端半導体、ディスプレイデバイスの電子顕微鏡用試料作製、および観察と解析を行います。また、単なる観察に留まらず、結晶構造・組成・電子状態解析を行うための新規評価・解析技術の探索・開発も行います。配属先は(株)東レリサーチセンター・形態科学研究部第1研究室で、最先端のTEM設備と経験豊富な技術スタッフと共に、高難度の受託分析評価を実施し、大学や国立研究所との共同研究なども積極的に実施します。すべての情報を見るには
ユーザー登録が必要です。
LabBase転職に登録すると...
- すべての求人が見放題
- 最先端求人リストの新着求人をメールでお知らせ
- 企業から面接やカジュアル面談のスカウトが届く
新規登録は簡単2分で登録完了します。