電子顕微鏡を用いた半導体分析研究・技術開発職
東レ株式会社
- STEM-CL
- STEM-EELS
- SEM-SXES
- 電子顕微鏡
- 組成
- TEM技術
- 半導体分析
- 結晶構造
- 電子状態解析
STEM-EELS、STEM-CL、SEM-SXESなど各種分光法による先端半導体、ディスプレイデバイスの電子顕微鏡用試料作製、観察、結晶構造・組成・電子状態解析を行うための新規評価・解析技術の探索・開発に携わります。SEMなど電子顕微鏡に関する経験がある方が望ましいです。
- 10,000名以上
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株式会社LabBase(ラボベース)
130億パラメータLLMをオープンソースで公開。またビジネスに直結するニュースや特許論文が届くAnewsに社内情報検索機能が搭載され、外部と社内の情報の横断検索・要約生成が可能に。